6-30keV B^+、C^+、N^+、O^+与H_2碰撞单电子剥离的实验研究  

Experimental studies on single-electron-loss of 6-30keV B^+, C^+, N^+ and O^+ impacting on H_2

作　　者：施伟[1] 吴松茂[2] 王志刚[2] 顾健[2] 闫冰[2] 陆福全[2] 杨福家[2] 

机构地区：[1]复旦大学李政道物理学综合实验室 [2]复旦大学现代物理研究所,上海200433

出　　处：《核技术》1998年第6期321-324,共4页Nuclear Techniques

基　　金：国家自然科学基金;国家教委留学回国人员科研基金;国家教委高等学校博士点基金

摘　　要：用增长率方法首次测量了6－30keVB+、C+、N+、O2与H2碰撞的单电子剥离截面，给出的B+和C+的6－30keV能区截面随离子能量的变化趋势与已有的100－2500keV能区截面的变化趋势衔接得很好。根据截面随入射离子能量和核电荷数的变化，对碰撞机理作了初步分析。B+、N+、O+与H2碰撞的单电子剥离截面的变化规律由分子轨道模型得到很好的解释。The single-electron-loss cross sections for 6- 30keV B+, C+, N+ and O+impacting on H2 have been measured, for the first time, using the growth-rate method. The cross sections of B+ and C+ as functions of ion energy in the region of 6 - 30keV from the present measurements can join smoothly to those in the 100-2500keV region from previous measurements. The variations of the cross sections of B+ , C+, N+ and O+ with the center-of mass energy and nuclear charge of the incident ions are well understood by the molecular-orbital theory.

关 键 词：电子剥离截面 低能 增长率 氢分子 等离子体 

分 类 号：O561.5[理学—原子与分子物理] O562.5[理学—物理]