τ轻子Michel参数测量中的电子识别方法  

Electron Identification in the Measurement of MichelParameter in τ Lepton Decay*

作　　者：钱诚德[1] 冯胜[1] 童国梁[1] 吴义根[1] 

机构地区：[1]上海交通大学应用物理系,中国科学院高能物理研究所

出　　处：《高能物理与核物理》1998年第5期388-392,共5页High Energy Physics and Nuclear Physics

基　　金：国家自然科学基金;上海交通大学科研基金

摘　　要：北京谱仪（ＢＥＳ）合作组通过衰变的电子能谱测定Ｍｉｃｈｅｌ参数，本文利用ＢＥＳ在质心系能量４，０３ＧｅＶ处获取的ｅ＋ｅ－对撞数据，通过ＢＥＳ给出的带电粒子ｄＥ／ｄｘ、β、Ｅ／ｐ测定值及其适当组合，实现了电子的有效识别．The Michel parameter ρτ→e is determined through studying the electron energy spectrum of τ→evv decay by Beijing Spectrometer(BES). This paper describes the electron identification with dE/ dx、β、E/p informations for charged particles and their, adequate combinations using e+,e- collision data collected at =. GeV.

关 键 词：Michel参数 τ轻子衰变 电子识别 两维散点图 

分 类 号：O572.32[理学—粒子物理与原子核物理]