检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]电子科技大学CAT实验室 [2]太原理工大学 [3]电子工业部第二十四研究所
出 处:《微电子学》1998年第4期282-286,共5页Microelectronics
摘 要:给出了通用的模拟/数字转换器(ADC)动态性能参数、采样型ADC的开关特性参数和高速/超高速ADC的动态性能参数所包含的参数名称及其定义。着重介绍了码密度直方图法和谱分析FFT法两种常用的ADC动态参数测试方法,指出了该领域未来的研究方向。General parameters of analogtodigital converter′s(ADC) dynamic performances,including switching characteristics of sampling ADC′s and the parameter definition of dynamic performances for high speed ADCs,are described in the paper.Two methods,code density histogram and spectrum analysis FFT,are introduced,which are typically used to test dynamic parameters of ADC′s.Finally,future trends of development in this area is previewed.
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