集成运放参数测试仪  被引量:4

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作  者:李白[1] 舒鹏飞[1] 杨静竹[1] 陶启成[1] 

机构地区:[1]武汉大学电子信息学院,湖北武汉430079

出  处:《科技创新导报》2009年第19期218-218,共1页Science and Technology Innovation Herald

摘  要:该集成运放参数测试系统参照GB3442-82标准,采用辅助放大器测试集成运算放大器主要参数的方法,以单片机(AT89S52)为控制核心,结合可编程逻辑器件FPGA,使用多量程自动切换的方式,实现了对通用集成运放VIO(输入失调电压)、IIO(输入失调电流)、AVD(交流差模开环电压增益)、KCMR(交流共模抑制比)和BWG(单位增益带宽)的高精度自动测量。整个系统集成度高,具有友好人机交互界面。

关 键 词:运算放大器 DDS FPGA 参数测量 

分 类 号:TN912.11[电子电信—通信与信息系统] TN915.02[电子电信—信息与通信工程]

 

参考文献:

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