玻璃结瘤、波筋的扫描及X射线能谱分析  

作　　者：刘世民[1] 任文军 王迎春[1] 

机构地区：[1]秦皇岛玻璃工业研究设计院

出　　处：《玻璃》1998年第3期7-8,共2页Glass

摘　　要：介绍了在平板玻璃行业中用扫描电镜及Ｘ射线能谱仪分析常见的玻璃缺陷的方法及对分析结果的精度估计。结果表明，在用光学显微镜无法定性的某些玻璃缺陷中，用扫描电镜及Ｘ射线能谱仪分析是十分有效的，并且有利于迅速准确判断玻璃缺陷来源。

关 键 词：玻璃 结瘤 波筋 扫描电镜分析 X射线能谱分析 

分 类 号：TQ171.652[化学工程—玻璃工业] TQ171.65[化学工程—硅酸盐工业]