低压塑料外壳式断路器接线端子温升影响因素研究  被引量:6

Research on Influencing Factors on Temperature Rise in Terminals of MCCB

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作  者:陈一民[1,2] 李宏文 张小青[1] 沈金波 

机构地区:[1]北京交通大学北京,100044 [2]北京建筑工程学院,北京100044 [3]中国建筑科学院,北京100085

出  处:《低压电器》2009年第13期7-9,共3页Low Voltage Apparatus

基  金:"十一五"国家科技支撑计划重点项目资助(2006BAJ01B03)

摘  要:探讨了低压塑料外壳式断路器接线端子温升影响因素,分析了负荷电流、接线端子力矩与端子温升之间的关系,进行了断路器接线端子温升试验,并对试验结果进行了分析,为低压断路器接线端子温升检测提供了参考。The factors affecting temperature rise in terminals of MCCB were discussed. The relations among load current, moment of terminals and temperature rise were analyzed. The circuit breaker terminal blocks temperature rise test was carried out. The test result was analyzed, to supply the references for measurements of temperature rise in terminals of MCCB.

关 键 词:塑料外壳式断路器 检测 温升 

分 类 号:TM561[电气工程—电器]

 

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