检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:顾文荃[1] 翁默颖[1] 沈建国[1] 黄昶[1]
机构地区:[1]华东师范大学电子科学技术系
出 处:《仪器仪表学报》1998年第4期377-382,共6页Chinese Journal of Scientific Instrument
摘 要:在工业界中使用的IC自动测试系统(ATE),必须具有快速测试IC参数的特点。结合作者在ATE系统设计中所做的研究工作,建立了彩色电视集成电路中AFT灵敏度和调谐放大器中谐振回路参数的测试数学模型。这两种数学模型经误差分析和实际使用,均证实了在不增加硬件成本条件下,保证系统测试精度又有效地提高测试系统的测试参数的速度。It's very important for industrial use to fast test the parameters of IC in automatic test equipment (ATE).With experiences of ATE system designing,the author sets up two mathematical models of the testing parameters of color TV IC.These parameters include AFT sensitivity and characteristic of resonance circuit in resonant amplifier.These mathematical models are proved to speed efficiently the test system without increasing the cost of hardware and decreasing the precision of test system.
分 类 号:TN407[电子电信—微电子学与固体电子学] TN949.12
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