潜在电路分析软件CapFast/SCAT研究与开发——潜在电路分析之三  

作　　者：任立明[1] 

机构地区：[1]航天可靠性与安全性研究中心,博士后高级工程师100830

出　　处：《质量与可靠性》1998年第4期28-32,共5页Quality and Reliability

摘　　要：介绍了航天总公司可靠性与安全性研究中心最近引进的美国潜在电路分析软件CapFast/SCAT。在初步消化了解的基础上,对如何利用该软件促进航天领域内该项技术的继续研究和在重点型号的推广应用,进行了探讨。

关 键 词：潜在电路 分析软件 开发利用 CapFast/SCAT 

分 类 号：TN710.07[电子电信—电路与系统]