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作 者:钱国光[1,2] 阮可青[1,2] 陈仙辉[1,2] 王宇行 汪成友[1,2] 曹强[1,2] 曹烈兆 张辉[3] 阮耀钟[3]
机构地区:[1]中国科技大学结构分析开放实验室 [2]中国科技大学物理系 [3]中国科技大学材料系
出 处:《低温物理学报》1998年第4期298-303,共6页Low Temperature Physical Letters
摘 要:测量了掺La的Bi2212系统的随温度变化(80~300K)的热电势.结果表明,热电势随掺杂浓度的增加(载流子浓度减少)而增大.定性解释了绝缘样品的热电势的宽峰移动,并且用NL模型及双带模型对热电势的结果进行了定量分析.Abstract The temperature dependence of the thermoelectric power (TEP) of Bi 2Sr 2- x La x CaCu 2O y (x =0.0~0.8) samples is reported in the temperature range 80~300K. TEP is positive and large for large x and decreases with decreasing x . The broad peak shift in the plot of the insulating samples is explained. The results of thermoelectric power are discussed following the Nagaosa and Lee model and the two band model.
分 类 号:TM262.014[一般工业技术—材料科学与工程]
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