C_(60)-Ag薄膜高、低温粗糙表面的标度行为和粗糙化机理的实验研究  

作　　者：侯建国[1,2] 王衍[1] 朱晓光 王海千[1] 夏锐[1] 吴自勤 

机构地区：[1]中国科学技术大学结构研究开放实验室 [2]中国科学技术大学高等研究院,合肥230026 [3]中国科学技术大学高等研究院 [4]中国科学院固体物理研究所,合肥230031

出　　处：《中国科学（A辑）》1998年第7期656-661,共6页Science in China(Series A)

基　　金：国家杰出青年基金资助项目 !(批准号 :5 95 2 92 0 4)

摘　　要：利用原子力显微镜和透射电子显微镜对沉积在NaCl衬底上的C60 Ag复合薄膜的表面形貌和微结构进行了研究 .结果表明薄膜表面的粗糙度依赖于衬底的温度 ,当衬底温度从 - 80℃上升到 1 2 0℃ ,薄膜表面发生从粗糙→光滑→粗糙的变化过程 .由于高温和低温条件下 ,薄膜表面的粗糙化机理不同 .高低温的表面虽然具有类似的rms粗糙度 ,但却具有不同的分形标度行为 .同时探讨了标度行为。

关 键 词：薄膜 表面粗糙度 标度性质 粗糙化机理 

分 类 号：O484.1[理学—固体物理]