大豆行距与杂草消长规律的初步研究  

Method for Testing Wheat Resistance to Powdery Mildew (Blumeria graminis (DC) Speer) Using Wheat Detached-leaf-segment

作　　者：孙国华[1] 唐立丰 周建强[1] 

机构地区：[1]江苏省国营新洋农场

出　　处：《杂草科学》1998年第2期33-34,32,共3页Weed Science

摘　　要：大豆行距与杂草消长规律的初步研究孙国华，唐立丰，周建强（江苏省国营新洋农场２２４３１４））为了摸清不同行距豆田杂草的消长规律，为化学除草策略的制定提供依据，对不同行距豆田的杂草消长进行了试验研究。１材料与方法１．１试验与调查方法，大豆行距分别为１５ｃ...

关 键 词：大豆田 大豆行距 杂草 消长规律 

分 类 号：S451.224[农业科学—植物保护]