异步旋转扫描式综合孔径干涉成像方法  

作　　者：吴季[1] 张成[1] 刘浩[1] 孙伟英[1] 

机构地区：[1]中国科学院空间科学与应用研究中心空间微波遥感技术实验室,北京100190

出　　处：《中国科学（E辑）》2009年第8期1463-1471,共9页Science in China(Series E)

基　　金：国家自然科学基金(批准号:40574070;40671121;40701100;40801136);国家高技术研究发展计划("863"计划)(批准号:2006AA12Z141)资助项目

摘　　要：综合孔径干涉成像技术在光学、射电天文学和微波遥感等领域都有很深的应用背景,随着应用需求的增长,其面临的一个主要障碍是系统结构过于复杂,这尤其不利于星载应用.为解决此问题,提出了一种异步旋转扫描分时采样成像方法,即采用两组子孔径阵绕同一中心以不同的转速进行异步旋转扫描.这种方式既可以得到较均匀的扫描轨迹,又可以自由灵活地实现系统复杂度和时间分辨率之间的平衡转换,从而可以在牺牲时间分辨率的情况下进一步稀疏子孔径阵列,以至于特定情况下简化到只需要两个子孔径.对异步旋转扫描的基本规律和设计方法进行了研究,并利用Gridding算法对其螺旋采样数据进行成像处理,最后针对地球同步轨道对地观测和太阳极轨射电天文观测两种潜在应用背景进行成像仿真,验证了此方法的实际可行性和有效性.

关 键 词：综合孔径 被动干涉成像 异步旋转扫描 分时采样 

分 类 号：TP72[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]