同步辐射X射线干涉的实验研究  

Study of X-Ray Interference Using Synchrotron Radiation

作　　者：蒋建华[1,2] 韩勇[1,2] 王洲光 田玉莲[1,2] 王功利 王林[1,2] 赵洋 曹芒[1,2] 李达成 

机构地区：[1]中国科学院高能物理研究所 [2]清华大学精密仪器系

出　　处：《高能物理与核物理》1998年第8期763-767,共5页High Energy Physics and Nuclear Physics

摘　　要：介绍在北京同步辐射装置上进行的国内首次ＬＬＬ型Ｘ射线干涉实验研究，在Ｘ光底片上观察到了Ｍｏｉｒｅ干涉条纹，为进一步利用Ｘ射线干涉技术实现纳米测量打下了初步基础。The experimentd study of synchrotron radiation X-ray interference has been presented. This experiment has been performed at the topography station of Beijing Synchrotron Radation Facility. The Moire fringes have been observed on the X-ray films. It has laid an initial foundation for the measurements with nm length.

关 键 词：同步辐射 X射线干涉 纳米测量 

分 类 号：TL501[核科学技术—核技术及应用] O434.11[机械工程—光学工程]