氧化铝XRD衍射谱的全谱拟合与温度因子  

作　　者：宋宏星[1] 毕延[1] 徐济安[1] 

机构地区：[1]中国工程物理研究院流体物理所冲击波物理与爆轰物理实验室,四川绵阳621900

出　　处：《高能量密度物理》2009年第3期102-108,共7页High Energy Density Physics

基　　金：国家自然科学基金（108074158）;国防科技重点实验室基金（9140C6703010703）;中国工程物理研究院发展基金（2008A0101001）.

摘　　要：通过对多晶材料的X射线衍射（X-ray Diffraction，简称XRD）数据做全谱拟合（即Rietveld结构精修），不仅得到了材料的晶体结构信息（晶胞参数、原子占位等），而且还得到相关的热物理参数（Debye-Waller温度因子、Debye温度、Gruneisen参数，弹性模量和声速等）。以室温下多晶α—Al2O3的XRD数据为例，简要介绍了如何对XRD衍射数据进行结构精修，并得到Debye-Waller因子、Debye温度。

关 键 词：RIETVELD结构精修 温度因子Debye温度 

分 类 号：TQ172.1[化学工程—水泥工业] TS272.53[化学工程—硅酸盐工业]