Cu/Ni接触对的微动可靠性研究  

作　　者：于天禹[1] 林雪燕[1] 

机构地区：[1]北京邮电大学自动化学院,北京100876

出　　处：《机电元件》2009年第3期13-16,共4页Electromechanical Components

摘　　要：本文研究了Cu/Ni电接触对在受到微动磨损时的电阻变化特性。当铜为样片而镍为触头时接触对的接触电阻明显比铜为触头而镍为样片时接触对的接触电阻更容易升高。因此,建议易氧化的铜作为接触对的触头材料。微动磨损区两端由于氧化磨屑堆积,接触电阻很容易升高。本文计算了Cu/Ni接触对的微动寿命分布参数,给出了可靠度随微动次数变化的曲线。

关 键 词：接触电阻 微动 磨损 氧化 可靠度 

分 类 号：TM503.5[电气工程—电器]