射频识别设备系统性能测试方法  

syste performance Test Method for RFID Device

作　　者：耿力[1] 王文峰[1] 

机构地区：[1]中国电子技术标准化研究所

出　　处：《信息技术与标准化》2009年第8期22-26,共5页Information Technology & Standardization

基　　金：国家科技支撑计划"现代服务业基础标准规范"(项目编号:2006BAH02A35)

摘　　要：详细介绍了射频识别设备的系统性能测试要求、测试条件、测试参数、测试方法以及国际标准最新进展情况,并对新旧标准进行了比较分析,在此基础上提出了相关建议。This paper researches the system performance test method and standard for RFID device, and introduce the test requirements, test conditions, test parameters, test method and up to date state of international standard, then compares and analyses the differences between old and new version of international standard and gives relevant suggestions basing on these facts.

关 键 词：射频识别 系统性能 测试方法 标准 

分 类 号：TP391.44[自动化与计算机技术—计算机应用技术]