基于谢宁DOE的背光灯片内部短路侦测研究  

Research on Electroluminescent Lamp Inner Short Circuit Detection Based on Shainin DOE

作　　者：舒逸[1,2] 杜世昌[2] 奚立峰[2] 

机构地区：[1]罗杰斯科技苏州有限公司,江苏苏州215000 [2]上海交通大学机械与动力工程学院,上海200030

出　　处：《机械制造与自动化》2009年第5期129-132,152,共5页Machine Building & Automation

摘　　要：谢宁试验设计方法是目前广泛使用的,具有代表性的试验设计方法之一。采用谢宁试验设计的成对(组)比较技术,结合图基检验的方法,针对背光灯片"内部短路"缺陷难以侦测的问题,构建了具体的具有实际操作性的检验侦测手段,并通过实例验证了该方法的有效性。Shainin DOE is one of the typical and widely used experimental design technologies which are applied to various circumstances. This article uses Shainin DOE methodology to carry out Paired Comparison and combine Tukey Test verification. Aiming at the difficult questions of lamp＇s inner short circuit detection, this paper establishes the practicable measurement and detection methods. The experiment proves that the method is effective.

关 键 词：谢宁试验设计 成对(组)比较技术 图基检验 背光灯片 内部短路 

分 类 号：TH74[机械工程—光学工程]