钼在400～2500K温度的比热和电阻率  

作　　者：Magl.,KD 罗丽 

出　　处：《钨钼材料》1998年第3期8-11,共4页

摘　　要：用毫秒－脉冲热量计与接触温度计测量钼的比热和电阻率，温度计采用是Ｗ－Ｒｅ热电耦，可在４００～２５００Ｋ温度范围内进行了研究。在温度高于１３００Ｋ时，并联高温计测量加以修正，利用在这个温度国内所获得的热辐数据得出并讨论了钼的比热，电阻率，半球形总辐射率以及标准光谱辐射率，并将比热与标准参考数据作了比较。

关 键 词：钼 比热 电阻率 温度计 

分 类 号：O614.612[理学—无机化学] TF125.241[理学—化学]