提高IC的氮气保护密封烧结质量  

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作  者:母继荣[1] 

机构地区:[1]电子工业部第四十七研究所

出  处:《半导体技术》1998年第5期43-44,共2页Semiconductor Technology

摘  要:分析了IC的氮气密封烧结工艺过程中存在的问题,并提出了改进措施,使密封烧结成品率提高了24%。

关 键 词:IC 密封烧结 氮气保护 集成电路 质量 

分 类 号:TN405[电子电信—微电子学与固体电子学]

 

参考文献:

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引证文献:

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