扫描电子显微镜下单壁碳纳米管的原位操控与性能  

In situ Study on Properties of Single-Walled Carbon Nanotubes by the Nano-Manipulator in a Scanning Electron Microscope

作　　者：董幼青[1] 张礼杰[1] 邹超[1] 黄少铭[1] 

机构地区：[1]温州大学纳米材料与化学重点实验室,浙江温州325027

出　　处：《材料科学与工程学报》2009年第5期789-792,共4页Journal of Materials Science and Engineering

基　　金：国家自然科学基金资助项目(50772076)

摘　　要：本文利用纳米操纵仪结合扫描电子显微镜系统对单壁碳纳米管进行在线操纵,在此基础上,通过外接的半导体参数测量系统,可以测量单壁碳纳米管的电学性能。此外,通过纳米操纵手对碳纳米管施加外电场,还可以改变二氧化硅表面单壁碳纳米管的扫描电子显微镜成像。Manipulation of single walled carbon nanotubes（SWNTs） by a nano-manipulator attached to a scanning electron microscope（SEM） and in situ measurement of SWNT-based field effect transistor（FET） have been demonstrated.It was also observed that the imaging of SWNT on SiO2 substrate can be affected by the voltage applied on the substrate through the nano-manipulator.

关 键 词：纳米操纵仪 扫描电子显微镜 单壁碳纳米管 原位测量 纳米操纵 

分 类 号：O59[理学—应用物理]