纳米材料的几种扫描探针显微表征方法  

Several Scanning Probe Microscopy Characterization Techniques on Nanomaterials

作　　者：褚宏祥[1,2] 

机构地区：[1]曲阜师范大学激光研究所,山东曲阜273100 [2]淄博师范高等专科学校科研处,山东淄博255130

出　　处：《光电技术应用》2009年第5期27-29,43,共4页Electro-Optic Technology Application

摘　　要：扫描探针显微镜(SPM)作为一种广泛应用的表面表征工具,不仅可以表征三维形貌,还能定量地研究表面的粗糙度、孔径大小和分布及颗粒尺寸,在许多学科均可发挥作用.以纳米材料为主要研究对象,综述了国外最新的几种扫描探针显微表征技术,包括扫描隧道显微镜(STM)、原子力显微镜(AFM)和近场扫描光学显微镜(SNOM)等方法,展示了这几种技术在纳米材料的结构和性能方面的应用.Scanning probe microscopy （SPM） is a powerful tool for surface characterization. It could be used to represent three dimensional morphology and surface roughness, aperture size, distribution, .so it can be applied to many scientific fields. The several recent scanning probe spectroscope characterization techniques are summarized, including scanning tunneling microscope（STM）, atomic force microscope （AFM） and scanning near-field optical microscopy （SNOM）, which could provide useful information concerning the structure and character of nanomaterials.

关 键 词：材料表征 扫描探针显微镜(SPM) 扫描隧道显微镜(STM) 原子力显微镜(AFM) 近场扫描光学显微镜(SNOM) 

分 类 号：O434.14[机械工程—光学工程]