X光磁圆二色谱及其应用  

作　　者：丁海峰[1] 董国胜[1] 金晓峰[1] 

机构地区：[1]复旦大学李政道物理综合实验室

出　　处：《物理》1998年第10期621-625,共5页Physics

基　　金：国家自然科学基金;上海市科委基金;霍英东教育基金委高等院校青年教师基金;国家教委博士点基金

摘　　要：介绍了一种新近发展起来的、以同步辐射技术为基础的磁学测量方法———Ｘ光磁圆二色谱．该方法不仅具有元素分辨和空间分辨等突出优点，而且在一些场合下还能分别确定轨道磁矩和自旋磁矩对总磁矩的贡献，为当今非常活跃的磁性薄膜和多层膜研究提供了有力的手段．

关 键 词：X光磁圆二色谱 同步辐射 磁性测量 薄膜 

分 类 号：O482.5[理学—固体物理] TM936.01[理学—物理]