岩溶勘察中层析成像(CT)探测技术  

作　　者：傅春[1,2] 颜恩锋[3] 谢莉莉[1] 左文斌 

机构地区：[1]天津职业大学,天津300410 [2]天津大学,天津300072 [3]天津市市政工程设计研究院,天津300201 [4]中建国际建设有限公司,北京100125

出　　处：《电工技术》2009年第12期55-56,共2页Electric Engineering

基　　金：青年科学基金项目(40801170)

摘　　要：介绍层析成像技术的原理和探测方法。通过采用层析成像技术进行岩溶勘察,解决了由于岩溶发育的不确定性、随机性及隐蔽性而无法对探测区内的岩溶发育情况进行全面、准确探测的难题。

关 键 词：岩溶 层析成像 探测 

分 类 号：P631.325[天文地球—地质矿产勘探] TP391.5[天文地球—地质学]