一种电路故障诊断的测试优化方法  

作　　者：邓斌[1] 熊记宁[1] 侯耀清 

机构地区：[1]空军雷达学院,武汉430019 [2]空军驻华中地区军代表室,武汉430077

出　　处：《21世纪（理论实践探索）》2009年第11期146-147,共2页The tuenty-first century

基　　金：空军军事计量计划项目资助（N0 20053432205）

摘　　要：在电路故障测试中，无论是人工测试还是自动测试，如何以最少的测试次数，找到故障源点是急待解决的问题。为了提高单故障可及性电路故障测试的有效度，减少测试次数，本文从信息论的角度来分析电路故障测试的过程，提出了故障熵，和故障信息量的概念，同时提出了电路故障测试的一种优化方法，并将其运用于实际的电路故障测试优化中。

关 键 词：电路测试 故障诊断 熵 

分 类 号：G201[文化科学—传播学] TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]