Al_2O_3/PI薄膜纳米颗粒形态的SAXS研究  

Nanoparticels morphology in Al_2O_3/PI films studied by SAXS

作　　者：刘晓旭[1,2] 殷景华[1,3] 闫凯[2] 程伟东[4] 吴忠华[4] 

机构地区：[1]哈尔滨理工大学应用科学学院,哈尔滨150080 [2]黑龙江科技学院实训中心,哈尔滨150027 [3]工程电介质及其应用技术教育部重点实验室,哈尔滨150080 [4]中国科学院高能物理研究所多学科中心,北京100049

出　　处：《核技术》2009年第12期901-904,共4页Nuclear Techniques

基　　金：国家自然科学基金(50677009)资助

摘　　要：聚酰亚胺(PI)/无机纳米杂化材料具有良好的电绝缘性、优异的机械性能以及高耐热等特性,广泛地应用于电气电子领域。本文利用同步辐射小角X射线散射(SAXS)技术对聚酰亚胺纳米杂化薄膜(Al2O3/PI)进行微观结构分析,结合透射电子显微镜(TEM)测试的结果,研究了杂化薄膜中无机纳米颗粒的特性。研究结果表明,无机纳米颗粒尺寸约为4–7nm,纳米颗粒与基体之间具有明锐的界面,薄膜体系分形维数为2.48。Inorganic nanohybrid polyirnide （PI） has wide applications in electric and electronics for its outstanding insulating, mechanical and heat-resistance properties. Al2O3/PI nanohybrid films of 100CR （Dupont）, with excellent corona-resistance, were characterized by synchrotron radiation small angle X-ray scattering （SAXS） and transmission electric microscopy （TEM）. The results show that the inorganic particles are 4-7 nm in size. The interface between nanoparficles and matrix is sharp. Fractal dimension of the film is 2.48.

关 键 词：小角X射线散射 纳米杂化 聚酰亚胺 分形 

分 类 号：TB383[一般工业技术—材料科学与工程]