基于LDRA的嵌入式软件覆盖率测试方法  

Test of Procedure Cover Based on the LDRA For Embedded Software

作　　者：刘春裕 王蕾 LIU Chun-yu, WANG Lei （Software Test Center of CSBI, Lianyungang 222006, China）

机构地区：[1]中国船舶工业软件测试中心,江苏连云港222006

出　　处：《电脑知识与技术》2009年第12期9843-9845,共3页Computer Knowledge and Technology

摘　　要：基于实时嵌入式软件的测试经验，针对实时嵌入式软件特点，研究了基于LDRA的嵌入式软件覆盖率测试方法，分析了程序插装BITMAP技术应注意的问题．提出了单文件和多文件两种方式的覆盖率测试方法。对于嵌入式软件测试，具有实际参考价值。On the basis of researching software testing technology and the principle of software instrument, aim at characteristic of realtime embedded system, this thesis researched test of procedure cover based on the LDRA for embedded software. Analyzed the technology of BITMAP for procedure instrument.Raise the single file testing method and the multi file testing method of procedure cover.

关 键 词：程序插装 覆盖率测试 覆盖率分析 BITMAP技术 

分 类 号：TP391[自动化与计算机技术—计算机应用技术;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]