21.6MeV中子与Be作用的次级中子双微分截面测量初步结果  

作　　者：阮锡超 兰长林[2] 陈国长 黄翰雄 刘刚[2] 聂阳波 李霞 王松林[2] 仲启平 鲍杰 周祖英 唐洪庆 

机构地区：[1]不详 [2]兰州大学核科学与技术学院,甘肃兰州730000

出　　处：《中国原子能科学研究院年报》2008年第1期121-121,共1页

摘　　要：采用飞行时间法，测量了21．6MeV中子与Be作用的次级中子发射谱。测量结果利用Monte—Carlo方法进行了详细的模拟分析，以进行注量衰减、多次散射和有限几何的修正。通过测量谱与模拟谱的比较来确定测量的截面。实验结果以n-p散射截面作为标准进行归一。

关 键 词：截面测量 次级中子 BE 微分 飞行时间法 模拟分析 有限几何 多次散射 

分 类 号：O571.6[理学—粒子物理与原子核物理] O571.55[理学—物理]