源激发X射线荧光分析装置研制及其应用  

作　　者：郑维明 吴继宗 宋游 陈晨 刘桂娇 

出　　处：《中国原子能科学研究院年报》2008年第1期265-265,共1页

摘　　要：作为一种非破坏分析方法，放射源激发X射线荧光有广泛的用途。用来测定含Pu样品时，简便快速，但需进行密封操作系统。本工作设计加工了一台封闭式放射源激发X射线荧光装置，采用2．59nBq（70mCi）241Am激发，电致冷Si-PIN探测器。

关 键 词：X射线荧光 分析装置 激发 SI-PIN探测器 应用 非破坏分析 操作系统 放射源 

分 类 号：X832.02[环境科学与工程—环境工程] O657.34[理学—分析化学]