检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
机构地区:[1]上海大学理学院
出 处:《上海大学学报(自然科学版)》1998年第4期383-389,共7页Journal of Shanghai University:Natural Science Edition
摘 要:产品的加速寿命试验被用来较快地获得关于产品寿命分布的信息.本文研究了Weibull分布和极小值分布下简单步加试验的最优设计问题.为解决Nelson折算法对极小值分布的数据处理产生特殊情况的问题,作者应用近年来一些新的研究成果,将位置-尺度分布中的尺度参数设为随应力变化的量进行最优设计.给出一实例,并将其推广到更一般的形式.Accelerated life tests (ALTS) provide quickly information on the life time distribution of products or materials. In this paper, we show an optimal plans for simple step-stress ALTS with Weibull distribution and Extreme value distribution. The optimum plan minimize the asymptotic variance of the MLE of a specified quantile at the design stress. An example is given.
分 类 号:O213.2[理学—概率论与数理统计]
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