碳纳米管网络导电特征的导电型原子力显微镜研究  

Using conductive atomic force microscope on carbon nanotube networks

作　　者：赵华波[1] 李震[1] 李睿[1] 张朝晖[1] 张岩[2] 刘宇[2] 李彦[2] 

机构地区：[1]北京大学物理学院,人工微结构与介观物理国家重点实验室,北京100871 [2]北京大学化学与分子工程学院物理与化学重点实验室,北京100871

出　　处：《物理学报》2009年第12期8473-8477,共5页Acta Physica Sinica

基　　金：国家自然科学基金(批准号:90406007;10434010);国家重点基础研究发展计划(批准号:2007CB936804)资助的课题~~

摘　　要：利用导电型原子力显微镜对大范围碳纳米管(CNT)网络的导电性能进行成像观察.研究发现:在几十微米的成像范围内,每根CNT本身的电阻远小于CNT之间的接触电阻,以致于在电压偏置的网络中不同的CNT呈现电位不同的等位体;CNT的导电性能虽不因与其他CNT的交叠接触而改变,但是如果缠绕成束,则半导体性CNT趋于呈现金属性CNT的导电特征.Conductive atom force microscopy observations have been performed on carbon nanotube networks. The results indicate that within an imaging range of several tens of micrometers the resistance of a carbon nanotube is much smaller than the contact resistance between two crossed carbon nanotubes and so the potential difference hardly appears along a carbon nanotube if the carbon nanotube network is electrically biased. Besides,if several semiconducting carbon nanotubes wind into a bundle,they tend to appear like metallic carbon nanotubes.

关 键 词：导电型原子力显微镜 碳纳米管网络 碳管纳米电导 

分 类 号：TB383.1[一般工业技术—材料科学与工程]