混合信号集成电路边界扫描测试技术的实现  

Implementation of mixed-signal integrated circuits boundary-scan test

作　　者：杨兵[1] 姜岩峰[1] 张东[2] 

机构地区：[1]北方工业大学信息工程学院微电子中心,北京100144 [2]北京自动测试技术研究所,北京100088

出　　处：《电子测试》2010年第1期48-54,共7页Electronic Test

基　　金：教育部新世纪优秀人才计划(2008)资助

摘　　要：IEEE1149.4为混合信号的测试提供了一项标准,同时也提供了一种重要的可测试性设计(DFT)技术,该技术不仅可以测试芯片或PCB之间的管脚连接是否存在故障,还可以测试芯片的逻辑功能。本文以IEEE1149.4标准为基础,结合混合信号边界扫描测试系统进行了测试验证,完成对混合信号电路的参数测试。IEEE1149.4 for mixed-signal test provides a standard,but also provides an important design for testability（DFT） technology,which can not only test chip or PCB pins link between the existence of the fault,can test chip logic function.The article IEEE1149.4 standards-based,with some mix-singnal scal test equipments,complete mixed-signal circuit parameters tested.

关 键 词：IEEE1149.4 ABM TBIC 边界扫描单元 

分 类 号：TN407[电子电信—微电子学与固体电子学]