一种红外CMOS读出电路相关双采样结构  

A CMOS Correlated Double Sampling Structure for the Readout Circuit of IRFPA

作　　者：曾强[1] 吕坚[1] 蒋亚东[1] 

机构地区：[1]电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都610054

出　　处：《微处理机》2009年第6期11-14,共4页Microprocessors

基　　金：国家杰出青年基金(60425101)

摘　　要：介绍了一种改进的红外焦平面CMOS读出电路相关双采样结构,它结构简单,面积小,功耗小,时间利用率高。分析了其抑制KTC噪声和固定图像噪声(FPN)的工作过程,列出了与通常使用的相关双采样结构相比较的优势。仿真结果表明这种结构能有效消除KTC噪声和固定图像噪声。A improved CMOS correlated double sampling （CDS） structure for the readout circuit of infrared focus plane array is presented. It has a smaller chip area, a low power consumption and a high time efficiency. The process of restraining KTC noise and fixed pattern noise （ FPN ） is analyzed. The advantages of this structure are listed after comparing to conventional CDS structure. Simulation results prove that this structure can effectively remove KTC noise andfixed pattern noise.

关 键 词：相关双采样 固定图像噪声 红外焦平面 读出电路 

分 类 号：TN4[电子电信—微电子学与固体电子学]