复合材料中β-SiC内部裂纹的TEM研究  

作　　者：孟祥敏[1,2] C.S.LEE RobertK.Y.LI 吕毓雄[1,2] 戴吉岩[1,2] 李斗星[1,2] 

机构地区：[1]香港城市大学材料科学与物理系 [2]中国科学院金属研究所固体原子像开放研究实验室

出　　处：《电子显微学报》1998年第5期477-478,共2页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基　　金：国家自然科学基金

摘　　要：材料的断裂，特别是实用结构材料的断裂，人们极为关注，并进行了大量的理论和实验研究，但就其机制来说，至今仍未能得到很好认识，主要原因在于对裂尖的结构及受载条件下的形变行为缺乏深入的了解。近年来，Ｏｈｒ［１］等人利用ＴＥＭ中的原位观察装置，研究了一些金属...

关 键 词：复合材料 Β-SIC 裂纹 TEM 

分 类 号：TB330.3[一般工业技术—材料科学与工程]