电子背散射衍射在取向测定和相分析中的应用  被引量:1

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作  者:王仁卉[1,2] 桂嘉年[1,2] 陈小梅[1,2] 施丹 王建波 张瑞康[1,2] 陈方玉 刘静[1,2] 汪大海 

机构地区:[1]武汉大学物理系 [2]武钢技术中心

出  处:《电子显微学报》1998年第5期549-550,共2页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基  金:国家自然科学基金

摘  要:由于电子背散射衍射(ElectronBackscateringDifraction,简称EBSD)技术[1]的发展,使得附有EBSD附件的扫描电镜能获取块状试样的尺度为0.5μm的微区结构信息。武汉大学物理系和武钢集团公司技术中心近年应用配有EBSD...

关 键 词:合金  相分析 电子背散射衍射 取向测定 

分 类 号:TG115.23[金属学及工艺—物理冶金]

 

参考文献:

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