光纤探针镀膜的扫描电镜检测  

作　　者：周庆[1] 戴宏[1] 陈尔纲[1] 木崇俊[1] 

机构地区：[1]云南大学物理系

出　　处：《电子显微学报》1998年第5期678-679,共2页Journal of Chinese Electron Microscopy Society

基　　金：云南省自然科学基金

摘　　要：扫描近场光学显微镜（ＳＮＯＭ）是一种新型高分辨率光学显微镜。它突破了传统的光学显微镜所受到的衍射极限，可在超高光学分辨率下进行纳米尺度的光学成像。已报道的近场光学显微镜的分辨率已达１０ｎｍ。因此，近场光学显微镜将在物理、化学、生物学及材料科学等领域有...

关 键 词：光纤探针 镀膜 扫描式 近场光学显微镜 电镜检测 

分 类 号：TH742[机械工程—光学工程]