高频效应对变压器铜损和漏感的影响  

作　　者：胡跃全[1] 金泰义[1] 何多慧[2] 郑其伟[3] 

机构地区：[1]中国科学技术大学 [2]国家同步辐射实验室 [3]香港理工大学

出　　处：《电工技术》1998年第7期15-18,共4页Electric Engineering

摘　　要：利用 P.L.Dowell 关于变压器铜损与漏感计算模型,进一步探讨高频效应对铜损的影响。实验结果表明,此模型能较为准确地预测高频变压器的铜损与漏感,因而可以将它应用于高频变压器的优化设计当中。

关 键 词：高频效应 变压器 铜损 漏感 高频变压器 设计 

分 类 号：TM422.02[电气工程—电器]