基于基本门单元完全测试集的测试生成算法研究  

The test generation algorithm based entirety test volume for basic gate cell

作　　者：张帆[1] 姚曜[2] 孔巧[1] 

机构地区：[1]海军装备研究院,100161 [2]装备指挥技术学院,101416

出　　处：《微计算机信息》2010年第2期143-144,156,共3页Control & Automation

摘　　要：充分地利用电路的结构信息,提出一种应用基本门单元完全测试集的测试生成算法,并给出了一些应用实例,表明了算法的可行性。Adequately using the frame information of circuit, we give a test generation algorithm of entirety test volume for basic gate cell and show some example, making know the algorithm’s feasibility.

关 键 词：测试向量 故障 结构信息 

分 类 号：TP206[自动化与计算机技术—检测技术与自动化装置]