BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计  

The Optimization Design of VME Control/Fan-out Module in BESⅢ Muon Electronics

作　　者：张雄[1] 梁昊[1] 虞孝麒[1] 周永钊[1] 

机构地区：[1]中国科学技术大学近代物理系,合肥230027

出　　处：《核电子学与探测技术》2009年第6期1331-1333,1352,共4页Nuclear Electronics & Detection Technology

摘　　要：主要阐述BESⅢ Muon电子学VME控制扇出插件的优化设计,主要内容包括对VME控制扇出插件控制芯片FPGA的固件进行优化,并且设计了相关实验来对优化方案进行测试。The optimization design of VME control/fan-out module in BESⅢ Muon electronics is described. It concerns about the optimization of the firmware in FPGA, which is the controlling chip of VME control/fan-out module. Test experiments are designed and carried out in the paper to verify the optimization of this module.

关 键 词：BESⅢ Muon电子学 VME 控制扇出 FPGA 固件 优化 

分 类 号：TL82[核科学技术—核技术及应用]