基于部分游程翻转的SoC测试数据压缩  

Test data compression of system-on-a-chip (SoC) based on partial runs reversing

作　　者：欧阳一鸣[1] 邹宝升[1] 梁华国[1] 黄喜娥[1] 

机构地区：[1]合肥工业大学计算机与信息学院,合肥230009

出　　处：《电子测量与仪器学报》2010年第1期23-28,共6页Journal of Electronic Measurement and Instrumentation

基　　金：国家自然科学基金项目(编号:60876028)资助项目;安徽省自然科学基金项目(编号:090412034)资助项目;博士点基金(编号:200803590006)资助项目

摘　　要：提出一种基于变长输入Huffman编码的SoC测试数据压缩方法,在测试序列中直接对连续的"0"游程和"1"游程进行编码。通过部分游程翻转的方法,使用单独的码字对翻转操作进行标识,使得长度相等的"0"和"1"游程共用一个码字,从而减少了短游程的数目。它的解压体系结构由一个Huffman解码器和控制生成单元(CUT)组成,且不需要循环扫描移位寄存器。实验结果表明,这种方法能够有效的压缩测试数据。This paper presents a test data compression acheme based on variable-length input Huffman coding in SoC.The runs of 0＇s and 1 ＇s in test sequences are directly encoded through the method of partial runs reversing.We use a Huffman code to identify the operation of reversing.The runs of 0＇s and 1 ＇s which length is equal use the same code.So that it reduce the number of the short runs.Its decompression architecture comprises a Huffman decoder and a control and generator unit（CUT）,and does not require a separate CSR.The experimental results show that this method can efficiently compress test data.

关 键 词：压缩/解压 变长输入Huffman编码 翻转 

分 类 号：TP302[自动化与计算机技术—计算机系统结构]