小儿高热惊厥75例临床与脑电图分析  

作　　者：王菊萍 彭希敏 

机构地区：[1]甘肃金昌市第二人民医院儿科,737100

出　　处：《中国社区医师（医学专业）》2010年第4期102-102,共1页

摘　　要：目的:探讨小儿高热惊厥(FC)脑电图改变与临床之间的关系。方法:对75例高热惊厥患儿进行发作2天内及2周后EEG描记及分析,探讨EEG改变与小儿年龄、发作时体温、惊厥发作持续时间、复发次数、遗传史与以后癫痫的发作关系。结果:75例患儿2天内及2周后EEG异常率分别为64%、33.3%;2天内及2周后均以小于3岁组异常率高,2周后以惊厥反复发作者、发作持续时间长、低热惊厥组、有遗传史者异常率高。结论:EEG异常率与年龄、发作次数、惊厥持续时间,惊厥发作时体温及家族惊厥史有关,有家族惊厥史者癫痫发生可能性大。

关 键 词：高热惊厥 小儿 临床 脑电图 

分 类 号：R720.597[医药卫生—急诊医学] R742.1[医药卫生—儿科]