基于光线跟踪的一般辐射度方法研究  

GENERAL METHODOLOGY STUDY OF RADIOSITY BASED ON RAY TRACING

作　　者：袁慧[1] 

机构地区：[1]四川轻化工学院电子工程系,自贡643033

出　　处：《四川轻化工学院学报》1998年第3期38-41,共4页Journal of Sichuan Institute of Light Industry and Chemical Technology

摘　　要：通过对目前主要采用的两种真实感图形绘制技术—光线跟踪技术和辐射度方法的研究；在将光线跟踪技术和辐射度方法相结合，更有效地模拟光能在物体表面间的镜面反射、透射和漫反射光照效应方面，本文做了较深入的讨论；对非理想漫射的一般环境，给出了基于光线跟踪的一般辐射度方法及其逐步求精选代的算法。By a study of two real image graphics rendering- ray tracing and radiosity methods,it is done for a detailed exploration in the combination of ray tracing technique and radiosity method and in the respect of simulating more effectively the reflect radiation,refract radiation and radiographed illumination models when light energy is on the surface of objects. To get a general environment of radiograph it is not so ideal. A general radiosity method based on ray tracing and a progressive refinement approach are given.

关 键 词：光线跟踪 辐射度 逐步求精法 算法 计算绘图 

分 类 号：TP391.41[自动化与计算机技术—计算机应用技术]