光电光谱分析中组织结构影响的校正  

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作  者:陈瑜[1] 

机构地区:[1]西南铝加工厂,重庆西彭401326

出  处:《铝加工》1998年第6期45-48,共4页Aluminium Fabrication

摘  要:在光谱分析中,组织结构影响易造成工作曲线平移或转动,给分析结果带来系统差,但其影响的大小又无法直接测量,这就给光谱分析工作带来新的课题。就此时铝合金各类型牌号中存在的组织结构影响的校正方法进行探讨。

关 键 词:光电光谱仪 成分分析 组织结构  铝合金 

分 类 号:TG146.21[一般工业技术—材料科学与工程]

 

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