浅谈数字仪器抗静电干扰的重要性及控制措施  

作　　者：吴白丁[1] 

机构地区：[1]浙江省计量科学研究院

出　　处：《上海计量测试》2010年第1期36-37,40,共3页Shanghai Measurement and Testing

摘　　要：0引言 早期常用各类电子组件体积大且频宽窄，因此静电对这些大体积的组件来说，几乎不造成什么影响。随着IC制造技术的不断进步和μm（微米）时代的到来，常用电子组件的尺寸大大缩小，已可以完全缩放到一个小小的芯片里面。在这种情况下，静电对现代数字仪器使用的如此小且频宽很宽的前端取样电路而言，

关 键 词：静电干扰 数字仪器 控制 电子组件 制造技术 取样电路 仪器使用 大体积 

分 类 号：O441.1[理学—电磁学]