二极管反向漏电流特性测试仪的设计  

Design of Diode Reverse Leakage Current Tester

作　　者：晏敏[1] 侯志春[1] 刘艳 李旭[1] 

机构地区：[1]湖南大学物理与微电子科学学院,湖南长沙410082 [2]广汽本田汽车有限公司焊装二科,广东广州510700

出　　处：《湖南大学学报（自然科学版）》2010年第2期36-39,共4页Journal of Hunan University:Natural Sciences

基　　金：湖南省自然科学基金资助项目(05JJ305115)

摘　　要：设计了一款在0～100℃和反向电压‰为0～1000V条件下，能够测试二极管反向漏电流特性的测试仪．它采用桥式输入、ICL7650组成的高精度放大电路、ADC0804和AT89S51完成了高压到低压的转换、信号的放大、采样、量化及显示，通过编程软件对测试结果进行修正，提高系统的测量精确度．对二极管IN4007的测试结果表明：所得反向漏电流分辨率达0．1nA，准确度达1．79％．A tester to test diode reverse leakage current at different temperatures（0-100 ℃）and under VR of 0 to 1 000 V was designed. The tester using input bridge, high-precision amplifier ICL7650,ADC0804 and AT89S51 can complete signal amplification, sampling, quantification and indication, and revise the test results through the programming software. Experiment results have shown that the resolution of the reverse leakage current is up to 0.1 nA, and the accuracy is up to 1.5 percent.

关 键 词：二极管 反向漏电流 桥式输入 ICL7650 精确度 

分 类 号：TN305[电子电信—物理电子学]