脑损害后锥体束Wallerian变性的磁共振诊断分析  

作　　者：顾志强[1] 李楠[1] 

机构地区：[1]郑州大学第二附属医院,郑州450014

出　　处：《中国实用神经疾病杂志》2010年第3期66-67,共2页Chinese Journal of Practical Nervous Diseases

摘　　要：目的探讨脑损害后锥体束Wallerian变性的磁共振诊断价值。方法回顾性分析155例脑损害后锥体束Wallerian变性患者磁共振资料。结果脑损害后锥体束Wallerian变性在磁共振上直接征象为与病灶同侧沿锥体束走行路径条状等T1或长T1长T2信号,T2Flair序列常呈高信号,间接征象为与脑损害同侧的脑干萎缩。结论磁共振可明确显示脑损害后锥体束Wallerian变性,不同于腔隙性脑梗死。

关 键 词：脑损害 锥体束 WALLERIAN变性 磁共振成像 脑干 

分 类 号：R445.2[医药卫生—影像医学与核医学]