高精度ADC有效精度的测试方法  

Effective Resolution Test Method of High Resolution ADC

作　　者：郝志刚[1,2] 杨海钢[1] 

机构地区：[1]中国科学院电子学研究所,北京100190 [2]中国科学院研究生院,北京100049

出　　处：《半导体技术》2010年第3期269-271,276,共4页Semiconductor Technology

摘　　要：采用IEEE标准提供的方法对ADC测试,要求信号源的精度比被测ADC的精度高。对于高精度ADC,需要更高精度的信号源。如果没有这种更高精度的信号源,就不能准确测出ADC的精度。给出了一种不需要信号源、只利用电路本身的热噪声作为被测ADC的输入信号,对ADC的输出进行FFT分析,求出噪声,求出有效精度的方法。这种测试方法速度快且准确,而且不需要高精度信号源。另外,通过一个实例对这种测试方法进行了验证。In the IEEE standard test method of ADC, the resolution of singnal resource should be higher than that of ADC. A method of employing noise as input signal of ADC was given, performing a FFT analysis for outputs of ADC, computing noise in outputs of ADC and obtaining effective resolution of ADC. The method is speedy and accurate, needs no without precise signal source. Moreover, the method is verified through an experiment.

关 键 词：ADC测试方法 高精度 噪声 

分 类 号：TN431.2[电子电信—微电子学与固体电子学]