检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:韩国胜[1] 王庆恒[1] 李晓戈[1] 石志侠[1] 苟全录[1] 马吉增[1]
机构地区:[1]中国辐射防护研究院
出 处:《辐射防护通讯》1998年第6期6-12,共7页Radiation Protection Bulletin
摘 要:使用239Puα放射源辐照国产SY-1型CR39片,研究了该片子的双层片电化学蚀刻参数特性。提出的双层片蚀刻技术可以提高蚀刻速度、消除电击穿干扰。实验初步确定的蚀刻条件:化学预蚀刻(70℃;KOH,6mol/L;3.5h),电化学蚀刻(70℃;KOH,6mol/L;1.5h;25kV/cm;1.5kHz)。利用液体镭盐标准氡源研究了该片子的测氡性能,采用50×30mm扩散取样盒测量,实验确定的氡刻度转换因子为3.51±0.
分 类 号:TN405.98[电子电信—微电子学与固体电子学]
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