吉时利仪器推出超快I-V测试模块  

出　　处：《电子质量》2010年第3期28-28,共1页Electronics Quality

摘　　要：吉时利仪器公司日前宣布推出新的4225-PMU超快I—V测试模块，进一步丰富了4200-SCS半导体特征分析系统的可选仪器系列。它在4200-SCS已有的强大测试环境中集成了超快的电压波形发生和电流，电压测量功能，实现了超宽的电压、电流和上升／下降／脉冲时间动态量程，大大提高了系统对新材料、

关 键 词：吉时利仪器公司 测试模块 4200-SCS I-V 波形发生 测试环境 测量功能 时间动态 

分 类 号：TN312.8[电子电信—物理电子学] TP37[自动化与计算机技术—计算机系统结构]