检索规则说明:AND代表“并且”;OR代表“或者”;NOT代表“不包含”;(注意必须大写,运算符两边需空一格)
检 索 范 例 :范例一: (K=图书馆学 OR K=情报学) AND A=范并思 范例二:J=计算机应用与软件 AND (U=C++ OR U=Basic) NOT M=Visual
作 者:程恩隽[1]
机构地区:[1]国家纳米科学中心
出 处:《国外科技新书评介》2010年第2期6-7,共2页Scientific & Technology Book Review
摘 要:本书展示了电流在纳米尺度下的表现,同时将纳米尺度下对电流的几方面研究的最新进展有机地联系起来,其中包括了缺陷、晶界、隧道效应以及原子触点相关方面的研究;纳米结构对电流的影响,尤其是对晶体管最小化的研究;还包括了一些针对扫描探针显微镜中遇到的测量纳米尺度下探针电流和电压的新技术。
关 键 词:纳米尺度 纳米电子学 电流 扫描探针显微镜 隧道效应 纳米结构 相关方 最小化
分 类 号:TN16[电子电信—物理电子学] TB383[一般工业技术—材料科学与工程]
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