解说低能量/光电子显微镜(LEEM/PEEM)  

Low energy/photoemission electron microscopy

作　　者：郭方准[1] 

机构地区：[1]中国科学院大连化学物理研究所分子反应动力学国家重点实验室,大连116023

出　　处：《物理》2010年第3期211-218,共8页Physics

摘　　要：文章介绍近年来倍受关注的低能量/光电子显微镜(LEEM/PEEM)的基本原理和应用.LEEM/PEEM拥有成像、光电子能谱和衍射功能,可对样品进行综合全面的分析.通过一系列的应用实例,特别是和同步辐射软X射线结合的成果,展示该实验手段在表面科学和纳米技术方面的应用.The rapidly developing field of low energy and photoemission electron microscopy（LEEM/PEEEM） is reviewed.This technology combines microscopy,spectroscopy and diffraction in one system,which allows a comprehensive characterization of the specimen under study.The combination of LEEM/PEEM and soft X-rays in a synchrotron radiation facility is especially powerful for studies in surface science and nano-technology.

关 键 词：低能量电子显微镜 光电子显微镜 同步辐射 电子衍射 磁畴 量子点 

分 类 号：TN16[电子电信—物理电子学]